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南臺科技大學105學年度第1學期課程資訊
課程代碼 10M00801
課程中文名稱 電子顯微鏡學
課程英文名稱 Techniques of Electron Microscopy
學分數 3.0
必選修 選修
開課班級 碩研機械一甲
任課教師 王聖璋
上課教室(時間)
週三 第1節 (E0406)
週三 第2節 (E0406)
週三 第3節 (E0406)
課程時數 3
實習時數 0
授課語言 1.華語
輔導考證
課程概述 現今電子顯微鏡的發展早已超出傳統影像對比、電子束繞射等功能,而在成分分析、鍵結結構、高分辨影像等功能上,有了長足的進步。本課程即是針對分析式電子顯微鏡AEM在X射線能譜儀(EDS);電子能量損失譜(EELS); 高解析原子影像HRTWM上的原理與分析技術作。
先修科目或預備能力
課程學習目標與核心能力之對應
編號中文課程學習目標英文課程學習目標
1 瞭解電子束與物件的成像原理
2 瞭解TEM的功能與分析技術
3 瞭解TEM在成分分析上的功能與技術
4 能夠實際去準備試片,並實際取得分析資料進行實作分析。
就業力培養目標 此門課程無設定權重值
中文課程大綱 1. 基本晶體學
2. 基本電子束繞射理論
3. 傳統穿透式電子顯微鏡分析
4. 高解析電子顯微鏡分析
5. 電子散佈能譜分析
6. 掃瞄穿透式電子顯微鏡
7. 電子損失能譜分析
8. TEM的試片準備
英/日文課程大綱 1. Basic Crystallography
2. Basic electron diffraction theroy
3. The transimission electron microscope
4. High Resoloution Eelectron Microscope
5. Energy Dispersive Spectroscope
6. Scanning Transmission Electron Microscope
7. Electron energy-loss spectrometry (EELS)
8. Sample Preparation for TEM
課程進度表 Week 1-3 Basic Crystallography
Week 4-6 Basic electron diffraction theroy
Week 7-8 The transimission electron microscope
Week 9 Midterm Exam.
Week 10-12 High Resoloution Eelectron Microscope
Week 13 Energy Dispersive Spectroscope
Week 14 Scanning Transmission Electron Microscope
Week 15 Electron energy-loss spectrometry (EELS)
Week 16 Sample Preparation for TEM
Week 17 Pratical operation of TEM
Weeks 18 Final Exam.
課程融入SDGs
期考調查
期中考(第9週)考試方式
期末考(第18週)考試方式
其他週考試考試週次與方式
教學方式與評量方式
課程學習目標教學方式評量方式
瞭解電子束與物件的成像原理
課堂講授  
筆試平時
瞭解TEM的功能與分析技術
課堂講授  
筆試期中
瞭解TEM在成分分析上的功能與技術
課堂講授  
分組討論  
口頭報告期末
能夠實際去準備試片,並實際取得分析資料進行實作分析。
實作演練  
書面報告期末
指定用書
書名 近代穿透式電子顯微鏡實務
作者 鮑忠興、劉思謙著
書局 滄海書局
年份 2008
國際標準書號(ISBN) 978-986-6889-53-0
版本
請同學尊重智慧財產權,使用正版教科書,不得非法影印,以免觸犯智慧財產權相關法令
參考書籍 1. 材料電子顯微鏡學 / 陳力俊等 著/出版社:國科會精密儀器發展中心 2. David B. Williams and C. Barry Carter, Transmission Electron Microscopy, , Plenum Press, New York (1996)。 3. Ludwig Reimer, Transmission Electron Microscopy, Springer-Verlag, New York, 3rd edition (1993)。 4. R. F. Egerton, Electron Energy-Loss Spectroscopy in the Electron
教學軟體
課程規範