| 課程代碼 |
10M02801
|
| 課程中文名稱 |
奈米材料結構分析
|
| 課程英文名稱 |
Microstructure Characterization of Nanophase Materials
|
| 學分數 |
3.0
|
| 必選修 |
選修
|
| 開課班級 |
博研機電一甲,碩研機械一甲
|
| 任課教師 |
王聖璋
|
| 上課教室(時間) |
|
週五
|
第1節
|
(K214)
|
|
週五
|
第2節
|
(K214)
|
|
週五
|
第3節
|
(K214)
|
|
| 課程時數 |
3
|
| 實習時數 |
0
|
| 授課語言 |
1.華語
|
| 輔導考證 |
無
|
| 課程概述 |
材料顯微結構分析是材料科學中最為重要的研究方法之一。準確、快捷的分析結果為材料的製備工藝、材料性能微結構表徵研究及其材料顯微結構設計提供可靠的實驗和理論依據。本課程主要介紹包括材料顯微結構形貌觀察、物相種類確定及其定量分析、微晶及納米粉體尺寸測定、塊材料及其微區成分分析和定量測定等；同時側重介紹進行上述顯微結構分析通常所採用的各種現代儀器的主要功能特性及其分析方法，其中包括X光繞射儀(XRD)、穿透式電子顯微鏡(TEM)、掃描電子顯微鏡(SEM)、電子探針(EPMA)、波譜儀(WDS)、能譜儀(EDS)、X光螢光分析儀(XRF)等，並且按排了相應的實驗。
|
| 先修科目或預備能力 |
|
|
課程學習目標與核心能力之對應
|
| 編號 | 中文課程學習目標 | 英文課程學習目標 |
|
1
|
能認知材料晶體結構
|
Be able to understand the crystal structure
|
|
2
|
瞭解知晶體結構分析方法
|
Be able to understand the characterization method for crystal structure
|
|
3
|
能夠瞭解X光繞射應用在晶體分析中
|
Be able to understand the applications of X-ray diffraction in crystal.
|
|
4
|
能夠鑑定XRD材料晶相
|
Be able to employ XRD to characterized the phase of materials
|
|
| 就業力培養目標 |
此門課程無設定權重值
|
| 中文課程大綱 |
1.簡介
-什麼是奈米科技 ?
-如何檢測奈米材料
2. 晶體結構 (I)
-基本晶體理論
3. 晶體結構(II)
-反晶格空間
4. 晶體結構(III)
-立體投影
5. X光繞射分析技術
6.電子束繞射分析技術
|
| 英/日文課程大綱 |
1. Introduction
-What is the nanotechnology ?
-How to characterize the nanophase materials
2. Crystal Structure (I)
-Basic theory of crystal
3. Crystal Structure (II)
-Reciprocal lattice
4. Crystal Structure (III)
-Stereographic projection
5.X-Ray Characterization (I)
|
| 課程進度表 |
日期 進 度
第1週 Introduction
-What is the nanotechnology ?
-How to characterize the nanophase materials
第2週 Properties of X-rays
第3週 Crystal Structure (I)
-Basic theory of crystal
第4週 Crystal Structure (II)
-Reciprocal lattice
第5週 Crystal Structure (III)
-Stereographic projection
第6週 X-Ray Characterization (I)
-Histroy of X-ray
-Characterization of X-Ray
-Bragg’s law
第7週 X-Ray Characterization (II)
-Diffraction
第8週 X-Ray Characterization (III)
-Identification procedure
第9週 期中考
第9週 Diffraction III : Real samples
第10週 XRD實習
第11週 Diffractometer measurement
第12週 Phase identifyication by X-ray Diffraction
第13週 Determination of crystal Structure
第14週 Precise Parameter Measurement
第15週 Stress Measurement
第16週 Crystal Quality
第17週 Transmission Electron Microscopy
第18週 期末考
|
| 課程融入SDGs |
|
| 期考調查 |
| 期中考(第9週)考試方式 |
|
| 期末考(第18週)考試方式 |
|
| 其他週考試考試週次與方式 |
|
|
| 教學方式與評量方式 |
| 課程學習目標 | 教學方式 | 評量方式 |
| 能認知材料晶體結構 |
課堂講授
|
作業
（
平時
）
|
| 瞭解知晶體結構分析方法 |
課堂講授
|
筆試
（
期中
）
|
| 能夠瞭解X光繞射應用在晶體分析中 |
實作演練
|
書面報告
（
期中
）
|
| 能夠鑑定XRD材料晶相 |
實作演練
|
書面報告
（
期末
）
|
|
| 指定用書 |
| 書名 |
Elements of X-Ray Diffraction
|
| 作者 |
B. D. Cullty
|
| 書局 |
Addison-Wesley
|
| 年份 |
1978
|
| 國際標準書號(ISBN) |
0-201-61091-4
|
| 版本 |
3
|
請同學尊重智慧財產權，使用正版教科書，不得非法影印，以免觸犯智慧財產權相關法令
。 |
| 參考書籍 |
|
| 教學軟體 |
|
| 課程規範 |
|