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南臺科技大學106學年度第1學期課程資訊
課程代碼 14D05401
課程中文名稱 薄膜檢測技術
課程英文名稱 Characterization Methods Of Thin Film Materials
學分數 3.0
必選修 選修
開課班級 四技自控三甲,四技自控三乙,四技自控四甲,四技自控四乙,四技奈米三甲,四技奈米三乙,四技奈米四甲,四技奈米四乙,四技車輛四甲,四技車輛四乙
任課教師 林克默
選課人數
上限60 目前已選人數45
上課教室(時間)
週一 第7節 (K401)
週一 第8節 (K401)
週一 第9節 (K401)
課程時數 3
實習時數 0
授課語言 1.華語
輔導考證
課程概述 本課程主要有兩部分:一為介紹重要材料檢測技術如SEM/TEM/AFM等;二是介紹光學基本原理及檢測方法。本課程並邀請業界專家來校講解實務應用與分享經驗。
先修科目或預備能力
課程學習目標與核心能力之對應
編號中文課程學習目標英文課程學習目標對應系指標
1 能具有薄膜檢測基本量測原理知識 1 工程知識
2 能具備薄膜檢測技術設計與應用能力 2 設計實驗
3 能具備使用薄膜檢測技術之能力 3 實務技術
4 能具備薄膜檢測報告分析與撰寫能力 11 書面表達溝通
就業力培養目標
  校指標 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
  專業知識 實務技能 資訊能力 整合創新 外語能力 熱誠抗壓 表達溝通 敬業合群 人文素養 服務關懷
  15% 45% 0% 0% 0% 5% 25% 5% 0% 5%
  系指標 1 2 3 9 4 12 6 10 11 5 13 7 8
  工程知識 設計實驗 實務技術 資訊能力 設計整合 外語能力 熱誠抗壓 口語表達溝通 書面表達溝通 溝通協調 人文藝術 社會關懷 職業倫理
  15% 15% 30% 0% 0% 0% 5% 5% 20% 5% 0% 0% 5%
中文課程大綱 1. 光學基本原理
2. 光譜儀原理與實務
3. 橢圓儀原理與實務
4. XRD原理與實務
5. AFM原理與實務
6. SEM/TEM原理與實務
英/日文課程大綱 1. Optics
2. Principle and Applications of Spectrophotometer
3. Principle and Applications of Spectroscopic Ellipsometry
4. Principle and Applications of XRD
5. Principle and Applications of AFM
6. Principle and Applications of SEM/TEM
課程進度表 第1周 課程介紹
第2~3周 光學原理
第4周 量測系統特性介紹
第5~6周 Arduino程式介紹
第7~8周 口頭報告
第9周 期中報告 (Arduino程式)
第10~12周 C#程式介紹
第13周 C#程式與Arduino感測器聯結介紹
第14~15周 C#程式與資料庫聯結介紹
第16~17周 口頭報告
第18周 期末報告 (C#程式與XX聯結);
課程融入SDGs
期考調查
期中考(第9週)考試方式
期末考(第18週)考試方式
其他週考試考試週次與方式
教學方式與評量方式
課程學習目標教學方式評量方式
能具有薄膜檢測基本量測原理知識
課堂講授  
實作演練  
書面報告平時
書面報告期中
能具備薄膜檢測技術設計與應用能力
課堂講授  
口頭報告期中
書面報告期中
能具備使用薄膜檢測技術之能力
課堂講授  
實作演練  
書面報告期末
實作期末
能具備薄膜檢測報告分析與撰寫能力
課堂講授  
實作演練  
口頭報告期末
書面報告期末
指定用書
書名 自編講義
作者
書局
年份
國際標準書號(ISBN)
版本
請同學遵守智慧財產權觀念,使用正版教科書,不得不法影印、下載及散布,以免觸犯智慧財產權相關法令
參考書籍 1. 物理 (光學部分)
2. Visual C# 2017基礎必修課,蔡文龍等,碁峯,2017
3. Visual C# 2015程式設計經典,蔡文龍,碁峯,2015
4. 從零開始學Visual C# 2015程式設計,李馨,博碩,2015
5. James N. Hilfiker , Spectroscopic Ellipsometry Seminar, J. A. Woollam Co., Inc., 2006.
6. 網路資料、期刊資料
教學軟體
課程規範