課程代碼 |
Z6D00401
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課程中文名稱 |
薄膜製程技術
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課程英文名稱 |
Thin film materials technology
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學分數 |
3.0
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必選修 |
選修
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開課班級 |
工學X學程三
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任課教師 |
林克默
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上課教室(時間) |
週五
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第1節
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(K302)
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週五
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第2節
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(K302)
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週五
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第3節
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(K302)
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課程時數 |
3
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實習時數 |
0
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授課語言 |
1.華語
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輔導考證 |
無
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課程概述 |
本課程主要有兩部分:一為深入介紹薄膜工程的重要觀念,矽膜、透明導電膜、薄膜成長機制、濺鍍原理及真空技術;二是介紹薄膜材料檢測技術,如光學量測、霍爾量測和橢圓儀等方法。
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先修科目或預備能力 |
最好有工程材料的基礎
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課程學習目標與核心能力之對應
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編號 | 中文課程學習目標 | 英文課程學習目標 | 對應系指標 |
1
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能具備薄膜工程之基本觀念
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be able to understand the basic concept of film engineering
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1 專業知識
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2
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能了解薄膜的製造技術
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be able to have knowledge about deposition technologies
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1 專業知識
|
3
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能具備執行薄膜材料特性檢測技術
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be able to characterize the physical properties of thin films
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2 實務技能
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4
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能具備薄膜特性分析能力
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be able to analyze the physical properties of thin films
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4 整合創新
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就業力培養目標 |
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校指標 |
1 |
2 |
3 |
4 |
5 |
6 |
7 |
8 |
9 |
10 |
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專業知識 |
實務技能 |
資訊能力 |
整合創新 |
外語能力 |
熱誠抗壓 |
表達溝通 |
敬業合群 |
人文素養 |
服務關懷 |
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50% |
30% |
5% |
10% |
5% |
0% |
0% |
0% |
0% |
0% |
|
系指標 |
1 |
2 |
3 |
4 |
5 |
6 |
7 |
8 |
9 |
10 |
|
專業知識 |
實務技能 |
資訊能力 |
整合創新 |
外語能力 |
熱誠抗壓 |
表達溝通 |
敬業合群 |
人文素養 |
服務關懷 |
|
50% |
30% |
5% |
10% |
5% |
0% |
0% |
0% |
0% |
0% |
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中文課程大綱 |
1.真空技術 2.薄膜工程基本觀念 3.真空蒸鍍、濺鍍、CVD 4.透明導電膜和矽材料介紹 5.光學量測技術 6.電性量測技術
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英/日文課程大綱 |
1.Vacuum technology 2.Basic concept of deposition engineering 3.Vacuum evaporation, sputtering, CVD 4.Introduction of transparent conductive film and Silicon material 5.Optical measurement technology 6.Electrical measurement technology
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課程進度表 |
1. 課程介紹/分組 2. SE-01 3. SE-02 4. SE-03 5. SE-04 6. 放假(兒童節) 7. TCO-01 8. TCO-02 9. SE上機考試 10. 真空技術 11. 薄膜成長+濺鍍技術 12. 光學檢測技術 13. 激光檢測技術 14. 晶體構造+XRD 15. 製程監控技術(口頭報告) 16. 濺鍍製程實作-01 17. 端午節(調整放假) (6/20補課,濺鍍製程實作-02) 18. 期末口頭和書面報告
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課程融入SDGs |
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期考調查 |
期中考(第9週)考試方式 |
上機考試
|
期末考(第18週)考試方式 |
報告
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其他週考試考試週次與方式 |
無
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教學方式與評量方式 |
課程學習目標 | 教學方式 | 評量方式 |
能具備薄膜工程之基本觀念 |
課堂講授
|
口頭報告
(
期末
)
書面報告
(
期末
)
|
能了解薄膜的製造技術 |
課堂講授
實作演練
|
口頭報告
(
期末
)
書面報告
(
期末
)
實作
(
平時
)
|
能具備執行薄膜材料特性檢測技術 |
課堂講授
實作演練
|
口頭報告
(
期末
)
書面報告
(
期末
)
實作
(
期中
)
|
能具備薄膜特性分析能力 |
課堂講授
實作演練
|
口頭報告
(
期末
)
書面報告
(
期末
)
實作
(
平時
)
實作
(
期中
)
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指定用書 |
書名 |
自編講義
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作者 |
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書局 |
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年份 |
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國際標準書號(ISBN) |
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版本 |
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請同學尊重智慧財產權,使用正版教科書,不得非法影印,以免觸犯智慧財產權相關法令
。 |
參考書籍 |
Milton Ohring,Materials science of thin films,歐亞,2004 Smith, Thin film deposition, McGraw-Hill, ISBN 0-07-116780-3 H. Fujiwara, Spectroscopic Ellipsometry: Principles and Applications, John Wiley & Sons, 2007 Callister,材料科學與工程,陳俊生、張柳春、楊子毅、簡仁德譯,歐亞 Askeland,材料科學與工程,郭行健、張柳春譯,歐亞 Callister,工程材料,陳文照、曾春風、游信和 譯,高立,2009 Kittel,固態物理學導論,高立,2003 林聖賢等,固態化學基礎簡介(一)&(二),滄海書局,2003
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教學軟體 |
無
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課程規範 |
無
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